| 铜导线中晶界对导电性影响的研究 |
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| 引用本文： | 陈建,严文,范新会,王鑫,刘海明.铜导线中晶界对导电性影响的研究[J].西安工业学院学报,2002,22(4):348-352. |
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| 作者姓名： | 陈建 严文 范新会 王鑫 刘海明 |
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| 作者单位： | 西安工业学院材料科学与工程系 陕西西安710032
(陈建，严文，范新会，王鑫)，西安工业学院材料科学与工程系 陕西西安710032(刘海明) |
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| 基金项目： | 国家科学自然基金 (5 99710 33)，高等学校优秀青年教师教学科研奖励计划资助 |
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| 摘 要： | 通过设计不同的退火温度，得到了含不等晶界数的铜导线，以此研究了晶界对导电性的影响。测量结果表明：导线的电阻率随晶界数的增加而增加，这归结于晶界对传导电子的散射作用；晶界对电阻率的影响并不象空位、位错那样呈简单的线性关系，而是呈指数关系；晶界控制导线电阻率变化曲线的总趋势，而具体细节则由杂质的类型和数量来控制。
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| 关 键 词： | 导电性 铜导线 晶界 电阻率 |
| 文章编号： | 1000-5714(2002)04-0348-05 |
| 修稿时间： | 2002年9月10日 |
Effects of grain boundaries on the electrical property of copper wires |
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| CHEN Jian,YAN Wen,FAN Xin hui,WANG Xin,LIU Hai ming.Effects of grain boundaries on the electrical property of copper wires[J].Journal of Xi'an Institute of Technology,2002,22(4):348-352. |
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| Authors: | CHEN Jian YAN Wen FAN Xin hui WANG Xin LIU Hai ming |
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| Abstract: | Though annealing at different temperatures, the copper wires of the various number of grain boundaries can be obtained. The results of measuring the resistivity of the coppers wire show: with the number of grain boundaries increased, the risistivity of the cooper wires grows; unlike dislocation and lattice vacant sites, the effect of grain boundary on the resistivity is not liner; grain boundary controls the trend of resistivity, and the details are controlled by the type and quantity of impurity. |
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| Keywords: | copper wires grain boundary resistivity |
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