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Agilent VEE光纤布拉格光栅波长测试系统
引用本文:赵耀,韩正英,高业胜. Agilent VEE光纤布拉格光栅波长测试系统[J]. 中国测试, 2015, 0(2): 69-71
作者姓名:赵耀  韩正英  高业胜
作者单位:中国电子科技集团公司第四十一研究所
摘    要:为准确测量光纤布拉格光栅的中心波长,基于Agilent VEE开发环境研制一套自动测试系统,利用可调谐激光器输出光波长精度和信噪比高的特点,通过在光功率计的不同量程档上分别进行波长扫描,并对扫描数据进行融合,系统的测量准确度达到了皮米量级,动态范围达到70 d B以上。在得到光纤布拉格光栅反射光谱曲线的基础上,应用三次样条插值和四次多项式拟合的方法来计算中心波长。测试结果表明:系统的测量重复性优于0.5 pm,测量不确定度为6 pm(k=2),能够满足传感用光纤布拉格光栅的测试需求。

关 键 词:测试系统  波长扫描  光纤布拉格光栅  多项式拟合

Wavelength test system of FBG based on Agilent VEE
ZHAO Yao;HAN Zhengying;GAO Yesheng. Wavelength test system of FBG based on Agilent VEE[J]. CHINA MEASUREMENT & TESTING, 2015, 0(2): 69-71
Authors:ZHAO Yao  HAN Zhengying  GAO Yesheng
Affiliation:ZHAO Yao;HAN Zhengying;GAO Yesheng;The 41st Research Institute of CETC;
Abstract:
Keywords:
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