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二氧化钒薄膜在α-Al2O3衬底上的外延生长及其金属-半导体相变特性研究
引用本文:吴召平,方平安. 二氧化钒薄膜在α-Al2O3衬底上的外延生长及其金属-半导体相变特性研究[J]. 无机材料学报, 1999, 14(5): 823-827
作者姓名:吴召平  方平安
作者单位:中国科学院上海硅酸盐研究所,上海200050
摘    要:利用XRD及XRD极图技术表征了用激光剥离技术生长的VO2薄膜。结果表明:在衬底温度为500℃,氧气偏压6.67Pa的条件下,在α-Al2O3(1120)衬底上能实现VO2的二维外延生长。薄膜的结构除了与沉积工艺有关外,还和衬底的取向密切相关。

关 键 词:二氧化钒 相变 极图 外延生长 薄膜 半导体 衬底
收稿时间:1998-11-04
修稿时间:1999-03-24

Epitaxial Growth and Phase Transition Properties of Vanadium DioxideThin Film on Sapphire Substrate
WU Zhao-Ping,FANG Ping-An. Epitaxial Growth and Phase Transition Properties of Vanadium DioxideThin Film on Sapphire Substrate[J]. Journal of Inorganic Materials, 1999, 14(5): 823-827
Authors:WU Zhao-Ping  FANG Ping-An
Affiliation:ShanghaiinstituteofCeramics;ChineseAcademyofSciencesShanghai200050China
Abstract:
Keywords:VO2  phase transition  pole figure  epitaxy
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