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| 一种面向嵌入式系统设计的全面测试过程模型 | |
| 作者单位： | ;1.中航工业西安航空计算技术研究所 |
| 摘 要： | 提出一种面向嵌入式系统设计过程的全面测试过程模型,针对嵌入式系统复杂性增加导致系统性能测试难度急剧增加、从而影响系统的安全性和稳定性的问题,充分考虑嵌入式系统设计的全寿命周期,将系统功能和性能测试融入系统设计的各个阶段,能够及早发现系统设计过程中的缺陷和不足,提升系统设计效率和系统稳定性。 |
| 关 键 词： | 嵌入式系统 设计周期 全面测试过程 性能测试 |
A Comprehensive Testing Process Model for Embedded System Design |
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