Cμ6800微处理机功能测试程序的研制

本文介绍了cu6800功能测试的一种测试方法及程序的研制。这种方法立足于测试技术的先进性、测试程序的有效性、实用性与经济性。以生产厂和用户之间交接产品时共同遵守的测试为宗旨,并对各类不同用户的使用环境提供方便。该方案吸收了一些国际上较先进的测试方法的长处,并有所改进,称为功能与结构兼测法。在对微处理机进行功能测试的同时,加强对弱点(容易出故障的工作部位)的测试。考虑微处理机工作时的内部干扰、信号丢失、传输延时、时钟链、进位链、时钟负载、频率范围(尤其是高低端情况)、逻辑传送、驱动能力等因素。文章说明了功能与结构兼测法的思想及其实现。