| CCD图像技术在塞曼效应分析中的应用 |
| |
| 引用本文： | 李武军,王晓颖. CCD图像技术在塞曼效应分析中的应用[J]. 西安工业大学学报, 2008, 28(3) |
| |
| 作者姓名： | 李武军 王晓颖 |
| |
| 作者单位： | 西安工业大学数理系 |
| |
| 摘 要： | 为了研究塞曼效应的谱线分裂情况,用量子理论和CCD图像相结合的方法分析了Hg(546.1 nm)谱线在外磁场中的分裂.根据强度分析获得的峰值坐标计算得到电子核质比为1.762×1011C/kg,与公认值的相对误差仅为0.2%,表明用高分辨率CCD观察拍摄塞曼效应的分裂谱线比传统方法更直观方便.进一步结合图像的强度分析,不仅能更好的描述塞曼分裂谱线的细节,而且能获得较为精确的电子荷质比值.
|
| 关 键 词： | 塞曼效应 磁场 CCD图像 强度分析 |
Application of CCD Image Technology in Zeeman Effect Analysis |
| |
| LI Wu-jun,WANG Xiao-ying. Application of CCD Image Technology in Zeeman Effect Analysis[J]. Journal of Xi'an Institute of Technology, 2008, 28(3) |
| |
| Authors: | LI Wu-jun WANG Xiao-ying |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | zeeman effect magnetic field CCD image intensity analysis |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
