| 二维表面粗糙度最小二乘评定基准线的改进 |
| |
| 引用本文： | 王中宇,付继华,孟浩.二维表面粗糙度最小二乘评定基准线的改进[J].计量学报,2008,29(3):203-206. |
| |
| 作者姓名： | 王中宇 付继华 孟浩 |
| |
| 作者单位： | 北京航空航天大学,仪器科学与光电工程学院,精密光机电一体化技术教育部重点实验室,北京,100083 |
| |
| 摘 要： | 现行国家标准中二维表面粗糙度评定的最小二乘基准线为折线,并且存在间断现象.对现行最小二基准线进行了改进,用最小二乘直线在整个评定长度内进行滑动和平均,将获得的光滑曲线作为表面粗糙度的评定基准线.通过算例和仿真分析,改进的最小二乘方法能够描述缓变、连续曲线.该基准线与国际标准推荐的高斯基准线具有较好的一致性,并且粗糙度的评定结果相同.改进的最小二乘基准线对现行标准的最小二乘基准改动小,继承了现行最小二乘基准计算简便和实用的特点,评定过程中不损失轮廓数据,评定基准线光滑、连续,消除了现行最小二乘基准线间断的现象.
|
| 关 键 词： | 计量学 表面粗糙度 最小二乘法 评定基准 |
Modified Least Square Reference Line for Surface Roughness Evaluation |
| |
| WANG Zhong-yu,FU Ji-hua,MENG Hao.Modified Least Square Reference Line for Surface Roughness Evaluation[J].Acta Metrologica Sinica,2008,29(3):203-206. |
| |
| Authors: | WANG Zhong-yu FU Ji-hua MENG Hao |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
