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DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
半导体器件存放期探讨
作者姓名:
翁寿松 钱新华
作者单位:
无锡无线电元件四厂
摘 要:
通过试验证明,超过存放期一年后的半导体器件在100%进行电参数测试,密封性试验,可焊性试验,剔除不稳定的器件后,仍可交付使用。
关 键 词:
半导体器件 寿命 储存期
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