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太赫兹计量技术研究进展
引用本文:吴斌,年夫顺,王洪超,李国超,应承平.太赫兹计量技术研究进展[J].微波学报,2015,31(S1):1-5.
作者姓名:吴斌  年夫顺  王洪超  李国超  应承平
作者单位:(1.电子测试技术重点实验室,青岛 266555; 2.中国电子科技集团公司第四十一研究所,青岛 266555)
摘    要:随着太赫兹(THz)科学技术的不断发展和应用水平的不断提高,科研、生产及应用领域都产生了对THz 计 量技术的迫切需求。论文梳理了美国国家标准与技术研究院、英国国家物理实验室、中国计量院等国内外主要计量机 构及其它科研机构在THz 参数计量技术方面的研究工作,从功率、频率、光谱参数以及脉冲参数等方面对THz 计量技 术的研究现状进行了综述,并对中国电子科技集团公司第四十一研究所在THz 计量领域的研究工作进行了介绍。最后, 对太赫兹计量技术的发展进行了展望。

关 键 词:太赫兹,计量,功率,频率,光谱

Research Progress in Terahertz Metrology
WU Bin,NIAN Fu-shun,WANG Hong-chao,LI Guo-chao,YING Cheng-ping.Research Progress in Terahertz Metrology[J].Journal of Microwaves,2015,31(S1):1-5.
Authors:WU Bin  NIAN Fu-shun  WANG Hong-chao  LI Guo-chao  YING Cheng-ping
Affiliation:(1. Science and Technology on Electronic Test & Measurement Laboratory, Qingdao 266555, China; 2. The 41st Institute of China Electronics Technology Group Corporation, Qingdao 266555, China)
Abstract:Terahertz metrology is becoming more and more important along with the development of terahertz techonology. This paper reviews the research works of the groups form National institute of standards and technology, National physical laboratory, National institute of metrology and other research institutes. The contents mainly focus on the parameter of power, frequency, spectrum and pulse. In addition, we give a simple introduce of the work carried by ourselves. At the end of the paper, the prospect of terahertz metrology is predicted.
Keywords:
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