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| 矿石中金的X射线荧光光谱测定 | |
| 引用本文： | 陈荣先,张鸿文,甘璇玑.矿石中金的X射线荧光光谱测定[J].稀有金属,1983(5). |
| 作者姓名： | 陈荣先 张鸿文 甘璇玑 |
| 作者单位： | 北京铀矿地质研究所，北京铀矿地质研究所，北京铀矿地质研究所 |
| 摘 要： | 由于矿石中金的含量极低,而测最数据的准确度和精密度要求又高,因此在采用X射线荧光光谱法测定之前,必须用化学法进行富集。本文采用的方法是:王水分解样品,TBP萃淋树脂反相色层分离,硫脲解析金,薄膜法制样,X射线荧光光谱法测定。探测限为0.1～0.2微克。测金的线性范围为0.11微克/毫升至10微克/毫升。准确度与精密度良好。 |
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