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脉冲激光光声微量量热法研究薄膜激发态的非辐射衰减
作者姓名:杨俊林  徐广智
作者单位:中国科学院化学研究所,中国科学院化学研究所 北京分子动态及稳态结构国家实验室,北京,100080;中国科学院生物物理研究所,北京分子动态及稳态结构国家实验室,北京,100080
基金项目:国家自然科学基金资助课题
摘    要:利用自己设计的光声信号系统研究了薄膜激发态的非辐射衰减。在同样的实验条件下,通过比较样品和标准物质光声信号的积分面积,即可测得团体薄膜非辐射衰减的量子产率。测量时,只需要旋转样品及标准物质在光路上的方向,不需要将膜从传感器上揭下来。此装置可用来研究光学透明薄膜或厚膜。

关 键 词:脉冲激光光声量热法  非辐射衰减  量子产率
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