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用SF_6-N_2混合气的反应离子刻蚀制作WSi_x微米结构
引用本文:程美乔,傅绍云,李建中.用SF_6-N_2混合气的反应离子刻蚀制作WSi_x微米结构[J].半导体学报,1990,11(5):355-359.
作者姓名:程美乔  傅绍云  李建中
作者单位:中国科学院半导体研究所 北京 (程美乔,傅绍云),中国科学院半导体研究所 北京(李建中)
摘    要:本文报道了ESi_x在SF_6-Ar、SF_6-N_2混合气中的反应离子刻蚀(RIE)的实验结果。研究了在SF_6-N_2的混合气中刻蚀WSi_x时,气体成分、气体流量、工作气压和输入功率对刻蚀速率的影响。发现在SF_6/N_2中刻蚀WSi_x微米结构具有优越性。实验结果的重复性较好,并在高速场效应器件、光电集成器件(微米结构)制作中得到应用。

关 键 词:SF-N混合气  离子刻蚀  Wsi微米结构

Fabrication of WSi_x Micron Structures Using RIE in SF_6-N_2 Mixture
Cheng Meiqiao/Institute of Semiconductors,Academia Sinica,Beijing Fu Shaoyun/Institute of Semiconductors,Academia Sinica,Beijing Li Jianzhon/Institute of Semiconductors,Academia Sinica,Beijing.Fabrication of WSi_x Micron Structures Using RIE in SF_6-N_2 Mixture[J].Chinese Journal of Semiconductors,1990,11(5):355-359.
Authors:Cheng Meiqiao/Institute of Semiconductors  Academia Sinica  Beijing Fu Shaoyun/Institute of Semiconductors  Academia Sinica  Beijing Li Jianzhon/Institute of Semiconductors  Academia Sinica  Beijing
Abstract:This paper reports experiments on reactive ion etching of WSi_x using SF_6-Ar and SF_6-N_2as etchants.Etching characteristics are well studied with SF_6-N_2 system. N_2 is found to besuperior as a diluent of SF_6 in etching micrometen structures of WSi_x, and having good repeatability.GaAs MESFET and OEIC devices have been fabricated with the etching.
Keywords:SF_(6-)N_2  mixture  reactive ion etching  micron structures of WSi_(?)
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