计量芯片后门测试用例生成方案 |
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引用本文: | 陈炎明,郭谡,王晶,关静雅.计量芯片后门测试用例生成方案[J].计量技术,2014(11):23-25. |
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作者姓名: | 陈炎明 郭谡 王晶 关静雅 |
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作者单位: | 1. 湖北省计量测试技术研究院,武汉,430223 2. 北京出入境检验检疫局,北京,100026 3. 湖北省计量测试技术研究院,武汉430223; 武汉大学计算机学院,武汉430072 |
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基金项目: | 质检公益性行业科研专项项目 |
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摘 要: | 随着嵌入式计量器具日益普及,利用嵌入式计量器具的软件缺陷或故意设置的作弊后门来进行作弊的现象越来越多。因此,急需一种自动检测方法来方便高效地检测嵌入式计量软件中的作弊后门。测试命令生成是通过对嵌入式计量器具常见作弊命令及格式的分析,利用模糊生成方法构造并生成,并输入后门检测系统进行后门检测。本文提出一种快捷的测试命令生成方法,优化了测试过程。
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关 键 词: | 计量芯片 后门检测 测试命令生成 |
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