| 聚酰亚胺/纳米有机硅薄膜结构与电性能研究 |
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| 引用本文： | 李翠翠,李娟,陈昊,张辰威,范勇. 聚酰亚胺/纳米有机硅薄膜结构与电性能研究[J]. 绝缘材料, 2008, 41(1): 37-39,43 |
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| 作者姓名： | 李翠翠 李娟 陈昊 张辰威 范勇 |
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| 作者单位： | 哈尔滨理工大学,材料科学与工程学院,哈尔滨,150040;哈尔滨理工大学,材料科学与工程学院,哈尔滨,150040;哈尔滨理工大学,材料科学与工程学院,哈尔滨,150040;哈尔滨理工大学,材料科学与工程学院,哈尔滨,150040;哈尔滨理工大学,材料科学与工程学院,哈尔滨,150040 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(50373008)，黑龙江省科技攻关项目(GC04A216) |
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| 摘 要： | 通过调整甲基三乙氧基硅烷和正硅酸乙酯的摩尔比,采用溶胶-凝胶法制备了纳米有机硅溶胶用于掺杂的聚酰亚胺(PI)薄膜。对薄膜的结构与电气强度,相对介电常数εr和介质损耗因数(tanδ)的关系进行了实验研究,并采用FT-IR,SEM表征了薄膜的化学结构和表面形貌。结果表明,随着纳米有机硅网络结构的变化,掺杂薄膜的击穿场强先下降后增加,大约在甲基三乙氧基硅烷和正硅酸乙酯的摩尔比为3∶5时出现极小值,在1 kHz的测试频率下,相对介电常数εr先增大后减小,相应的介质损耗因数(tanδ)逐渐降低。
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| 关 键 词： | 聚酰亚胺 纳米有机硅 电性能 |
| 文章编号： | 1009-9239（2008）01-0037-04 |
| 收稿时间： | 2007-10-18 |
| 修稿时间： | 2007-11-30 |
Analysis on the Structure and Dielectric Property of Nano-organosilicon/PI Film |
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| LI Cui-cui,LI Juan,CHEN Hao,ZHANG Chen-wei,FAN Yong. Analysis on the Structure and Dielectric Property of Nano-organosilicon/PI Film[J]. Insulating Materials, 2008, 41(1): 37-39,43 |
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| Authors: | LI Cui-cui LI Juan CHEN Hao ZHANG Chen-wei FAN Yong |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | polyimide nano-organosilicon electrical property |
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