| 荧光层析X射线照相法——一种新型层析照相技术 |
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| 引用本文： | 魏彪,潘英俊.荧光层析X射线照相法——一种新型层析照相技术[J].无损检测,2001,23(11):505-506. |
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| 作者姓名： | 魏彪 潘英俊 |
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| 作者单位： | 重庆大学光电工程学院,重庆,400044 |
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| 摘 要： | 18 95年 ,德国物理学家伦琴 (ＲｏｎｔｇｅｎＷＣ)在研究真空管中的高压放电现象时 ,发现了Ｘ射线。自此 ,Ｘ射线就被广泛应用于医学、工业技术和科学研究等领域。利用Ｘ射线的无损检测 (ＮＤＴ)技术就是其重要应用之一。例如 ,用于医疗临床诊断的Ｘ射线照相 (Ｘ射线拍片 )和Ｘ射线层析照相 (ＣＴ) ,实际上就是Ｘ射线ＮＤＴ技术在医学中的应用 ,如今 ,这已成为家喻户晓的一种医学临床诊断手段。在工业ＮＤＴ领域 ,Ｘ射线的应用则是多方面的 ,其中较为重要且目前仍被广为采用的ＮＤＴ技术 ,主要是Ｘ射线照相、Ｘ射线实时成象及Ｘ射线层析照相…
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| 关 键 词： | 无损检测 X射线层析照相 荧光X射线 |
| 文章编号： | 1000-6656(2001)11-0505-02 |
| 修稿时间： | 2000年5月17日 |
FLUORFSCENT COMPUTED TOMOGRAPHY: A NEW COMPUTED TOMOGRAPHIC NONDESTRUCTIVE TESTING TECHNIQUE |
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