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利用混合极性制备多孔缓冲层及其在GaN厚膜外延中的应用
引用本文:尹志军,钟飞,邱凯,李新化,王玉琦.利用混合极性制备多孔缓冲层及其在GaN厚膜外延中的应用[J].半导体学报,2007,28(6).
作者姓名:尹志军  钟飞  邱凯  李新化  王玉琦
作者单位:中国科学院材料物理重点实验室,合肥,230031
摘    要:使用分子束外延(MBE)技术在(0001)面蓝宝石衬底上生长混合极性的氮化镓(GaN)薄膜,利用不同极性面的GaN薄膜在强碱溶液中腐蚀特性的差异,混和极性样品经腐蚀处理后,得到了一层具有多孔结构的GaN层.以多孔结构的GaN作为缓冲层,用卤化物气相外延(HVPE)方法生长GaN厚膜.X射线双晶衍射和光致发光等测试结果表明,多孔结构的GaN缓冲层可以有效地释放GaN厚膜和衬底之间因热膨胀系数失配产生的应力,使GaN厚膜晶体的质量得到很大提高.

关 键 词:GaN  极性  多孔  应力释放

Growth of Thick GaN Films on Mixed-Polarity Buffer by Halide Vapor Phase Epitaxy
Yin Zhijun,Zhong Fei,Qiu Kai,Li Xinhua,Wang Yuqi.Growth of Thick GaN Films on Mixed-Polarity Buffer by Halide Vapor Phase Epitaxy[J].Chinese Journal of Semiconductors,2007,28(6).
Authors:Yin Zhijun  Zhong Fei  Qiu Kai  Li Xinhua  Wang Yuqi
Abstract:
Keywords:
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