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带p埋层表面注入硅基LDMOS模型与优化
引用本文:李琦,张波,李肇基.带p埋层表面注入硅基LDMOS模型与优化[J].半导体学报,2007,28(8).
作者姓名:李琦  张波  李肇基
作者单位:电子科技大学IC设计中心,成都,610054
摘    要:提出一种带p埋层的表面注入硅基LDMOS高压器件新结构,称为BSI LDMOS(surface implanted LDMOS with p buried layer).通过表面注入n+薄层降低导通电阻,p埋层不但改善横向表面电场分布,提高击穿电压,而且增大漂移区优化浓度.求解电势的二维Poisson方程,获得表面电场和击穿电压的解析式,研究结构参数对表面电场和击穿电压的影响,数值与解析结果吻合较好.结果表明:与常规结构相比较,BSI LDMOS大大改善了击穿电压和导通电阻的折衷关系.

关 键 词:p埋层  表面注入  表面电场  击穿电压  模型

Analytical Model and Optimization of Bulk-Silicon Surface Implanted LDMOS with p Buried Layer
Li Qi,Zhang Bo,Li Zhaoji.Analytical Model and Optimization of Bulk-Silicon Surface Implanted LDMOS with p Buried Layer[J].Chinese Journal of Semiconductors,2007,28(8).
Authors:Li Qi  Zhang Bo  Li Zhaoji
Abstract:
Keywords:
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