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生长温度对RF-MBE外延InAlGaN的影响
引用本文:王保柱,王晓亮,王晓燕,王新华,郭伦春,肖红领,王翠梅,冉军学,王军喜,刘宏新,李晋闽. 生长温度对RF-MBE外延InAlGaN的影响[J]. 半导体学报, 2007, 28(Z1)
作者姓名:王保柱  王晓亮  王晓燕  王新华  郭伦春  肖红领  王翠梅  冉军学  王军喜  刘宏新  李晋闽
作者单位:中国科学院半导体研究所,北京,100083
基金项目:中国科学院知识创新工程项目,国家自然科学基金,国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:利用射频等离子体辅助分子束外延(RF-MBE)技术在蓝宝石衬底上外延了铟铝镓氮(InAlGaN)薄膜,研究了生长温度对RF-MBE外延InAlGaN薄膜的影响.X射线衍射测量结果表明,不同生长温度下外延生长的InAl-GaN薄膜均为单一晶向.卢瑟福背散射(RBS)测量结果表明,随着生长温度的提高,InAlGaN外延层中In的组分单调降低,Al和Ga的组分都有所增加.扫描电镜(SEM)的测试结果表明,在较高温度下(600和590℃)生长的In-AlGaN存在裂纹,580℃生长的四元合金表面比较平整,在570℃温度下生长的InAlGaN表面存在很多颗粒状突起.

关 键 词:RF-MBE  铟铝镓氮  XRD  RBS  SEM

Effects of Growth Temperature on the InAlGaN Epilayer by RF-MBE
Wang Baozhu,Wang Xiaoliang,Wang Xiaoyan,Wang Xinhua,Guo Lunchun,Xiao Hongling,Wang Cuimei,Ran Junxue,Wang Junxi,Liu Hongxin,Li Jinmin. Effects of Growth Temperature on the InAlGaN Epilayer by RF-MBE[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2007, 28(Z1)
Authors:Wang Baozhu  Wang Xiaoliang  Wang Xiaoyan  Wang Xinhua  Guo Lunchun  Xiao Hongling  Wang Cuimei  Ran Junxue  Wang Junxi  Liu Hongxin  Li Jinmin
Abstract:
Keywords:
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