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| 电子元件、组件 | |
| 摘 要： | TN60 2004010449一种光电器件几何参数测试方法/赵洪杰,孙洪拓(东北电子技术所)“光电对抗与无源干扰.一2 003,(l)一32一34简单介绍了光电器件几何参数,找到了一种测试工具一一万能工具显微镜,探讨了用新工具测试几何参数的方法,有效解决了深度测量的难题.图1表2参4(刚)TN60 20 |
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