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多孔型氧化铝薄膜在高密度封装中的应用及性能
引用本文:朱大鹏,王立春,罗乐.多孔型氧化铝薄膜在高密度封装中的应用及性能[J].功能材料与器件学报,2007,13(6):619-624.
作者姓名:朱大鹏  王立春  罗乐
作者单位:中科院上海微系统与信息技术研究所,上海,200050;中科院上海微系统与信息技术研究所,上海,200050;中科院上海微系统与信息技术研究所,上海,200050
摘    要:利用铝阳极氧化方法对微晶玻璃基板上的多层铝膜进行选择性氧化,制备了4层布线的高密度MCM—D基板,对氧化得到的多孔型氧化铝介质膜的绝缘及介电性能进行了研究。实验结果表明:多层布线铝与氧化铝结合性好,层间和同层多孔氧化铝绝缘电阻分别达到10^9Ω和10^11Ω以上;多孔型氧化铝的相对介电常数和损耗分别为5.73和0.022(1MHz);导带、互连通孔与绝缘层所形成的层间通孔互连结构共面性好,具有良好的电互连性能。多孔型氧化铝介质膜适用于制备高密度MCM—D基板。

关 键 词:多孔型氧化铝膜  高密度封装  绝缘性能
文章编号:1007-4252(2007)06-0619-06
修稿时间:2006年12月29

Application of porous anodic alumina film in high density packaging and its properties
ZHU Da-peng,WANG Li-chun,LUO Le.Application of porous anodic alumina film in high density packaging and its properties[J].Journal of Functional Materials and Devices,2007,13(6):619-624.
Authors:ZHU Da-peng  WANG Li-chun  LUO Le
Abstract:
Keywords:
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