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钇稳定二氧化锆流延成型薄膜的无压烧结研究
引用本文:鲁盛会,李素芳,向蓝翔,陈宗璋,吴振君,周欣燕. 钇稳定二氧化锆流延成型薄膜的无压烧结研究[J]. 稀土, 2010, 31(3)
作者姓名:鲁盛会  李素芳  向蓝翔  陈宗璋  吴振君  周欣燕
作者单位:1. 中国原子能科学研究院,北京,102413
2. 湖南大学,化学化工学院,湖南,长沙,410082
基金项目:湖南省自然科学基金项目资助 
摘    要:讨论了流延法制备的钇稳定氧化锆(YSZ)陶瓷薄膜的无压烧结过程.通过SEM、TG-DTA和XRD等手段对素坯和烧结过程进行微观检测和表征.结果表明,固体含量为55%(质量分数)的素坯薄膜,在75℃~1000℃温度区间,有机添加剂的烧除对最终烧结体的致密化贡献不大,但对陶瓷薄膜的形变影响很大,YSZ素坯薄膜内有机添加剂的匀速烧除,能够有效控制流延法制备陶瓷薄膜的起翘开裂,且能够有效抑制最终烧结体内气孔的数量,对最终致密化起促进作用;在1000℃~1450℃的温度区间,陶瓷薄膜的晶粒生长和致密化主要以表面物质扩散机制进行,且晶粒的生长和致密化同步进行.在最佳烧结温度1500℃时相对密度达到最大值98%左右,随后,晶粒的尺寸随温度及保温时间的增加而增大,而密度有所下降.

关 键 词:氧化锆  薄膜  烧结  流延

Pressureless Sintering of Yttria-Stabilized Zirconia Thin Films Formed by Tape Casting
LU Sheng-hui,LI Su-fang,XIANG Lan-xiang,CHEN Zong-zhang,WU Zhen-Jun,ZHOU Xin-yan. Pressureless Sintering of Yttria-Stabilized Zirconia Thin Films Formed by Tape Casting[J]. Chinese Rare Earths, 2010, 31(3)
Authors:LU Sheng-hui  LI Su-fang  XIANG Lan-xiang  CHEN Zong-zhang  WU Zhen-Jun  ZHOU Xin-yan
Abstract:
Keywords:
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