基于CMM的叶片测点采样分布方法研究 |
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作者姓名: | 张现东 卜昆 程云勇 董一巍 |
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作者单位: | 西北工业大学现代设计与集成制造技术教育部重点实验室,陕西西安,710072 |
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摘 要: | 三坐标测量是复杂叶片外形精度检测的重要手段之一.针对自适应曲率采样、混合采样在大曲率处采样点过密集及在小曲率处过稀疏的缺点,通过优化曲率半径比,并结合叶片的结构特征,提出了一种自适应的分段曲率采样算法,进而对叶片CMM测量点的采样分布进行研究.研究结果表明:在测量点数相同的情况下,与均匀采样和混合采样算法相比,分段曲率采样算法可以使测量点的分布能更好的反映叶片CAD形状,从而提高叶片的三坐标测量效率.
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关 键 词: | 叶片 三坐标测量 分段曲率采样 均匀采样 混合采样 |
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