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叠层埋入式电阻温度分布的影响因素分析
引用本文:李天明,张瑞宾,黄春跃,宁忠萍,梁颖.叠层埋入式电阻温度分布的影响因素分析[J].电子元件与材料,2014(7).
作者姓名:李天明  张瑞宾  黄春跃  宁忠萍  梁颖
作者单位:1. 桂林航天工业学院 汽车工程系,广西 桂林,541004
2. 桂林电子科技大学 机电工程学院,广西 桂林,541004
3. 桂林航天工业学院 教务处,广西 桂林,541004
4. 成都航空职业技术学院 电子工程系,四川 成都,610021
基金项目:广西壮族自治区自然科学基金资助项目(No.2013GXNSFAA019322;No.2012GXNSFAA053234);四川省教育厅科研资助项目
摘    要:选取方阻阻值、电阻表面积、电阻层间距、电阻距PCB板表层距离、同层电阻间距和电阻电流作为影响温度分布的关键因素,基于正交表L25(56)设计并建立了25种不同参数水平组合的叠层埋入式电阻有限元模型进行温度场分析,对所得25组温度数据进行极差分析和方差分析。结果表明:方阻阻值对温度影响最大,其次是电阻表面积、电阻电流、同层电阻间距、电阻距PCB板表层距离,最后是电阻层间距;在置信度为90%时,方阻阻值对温度有显著影响。

关 键 词:埋入式电阻  有限元模型  正交试验  热分析  极差分析  方差分析

Analysis of the influence factors on temperature distribution of stack embedded resistors
LI Tianming,ZHANG Ruibin,HUANG Chunyue,NING Zhongpin,LIANG Ying.Analysis of the influence factors on temperature distribution of stack embedded resistors[J].Electronic Components & Materials,2014(7).
Authors:LI Tianming  ZHANG Ruibin  HUANG Chunyue  NING Zhongpin  LIANG Ying
Abstract:
Keywords:embedded resistors  finite element analysis model  orthogonal experiment  thermal analysis  range analysis  variance analysis
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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