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基于GPIB的电容器参数自动测试系统
引用本文:唐建东. 基于GPIB的电容器参数自动测试系统[J]. 电子测量技术, 2010, 33(5): 99-101
作者姓名:唐建东
作者单位:深圳职业技术学院微电子专业,深圳,518055
摘    要:针对电容器参数测试复杂、耗时等特点,设计一个电容器参数自动测试系统。在介绍了基于GPIB的电容器参数自动测试系统测试方法和GPIB总线结构和特点的基础上,重点描述电容器参数自动测试系统的总体结构,阐述了系统的软件体系和电容器参数测试程序流程。经实验,该系统具有自动化程度高、开放性好、测试速度快等优点,适应电容器制造行业的需求。

关 键 词:GPIB  电容测试  自动测试系统  H4263

Capacitor parameters automatic test system based on GPIB bus
Tang Jiandong. Capacitor parameters automatic test system based on GPIB bus[J]. Electronic Measurement Technology, 2010, 33(5): 99-101
Authors:Tang Jiandong
Affiliation:Tang Jiandong(Shenzhen Polytechnic Electronic Engineering,Shenzhen 518055)
Abstract:According to complexity and time-consuming in test of capacitor parameters,a design of automatic test system based on GP IB is presented.This article mainly describes overall structure of the capacitor parameters automatic test system after introducing the test method and bus architecture of the system.It also describes software architecture and program flow of the capacitor parameters test.The system has the advantages of a high degree of automation,good opening,fast test speed etc.
Keywords:GPIB  H4263
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