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银基汞膜微电极测定痕量亚硝酸根的研究
引用本文:匡云飞,邹建陵,邓培红,冯泳兰.银基汞膜微电极测定痕量亚硝酸根的研究[J].化学世界,2006,47(9):521-523.
作者姓名:匡云飞  邹建陵  邓培红  冯泳兰
作者单位:衡阳师范学院化学与材料科学系,湖南,衡阳,421008
摘    要:基于甲基橙亚硝化产物在银基汞膜电极上的吸附行为,提出了一种测定痕量亚硝酸根的新方法。该法在0.5 mol/L H2SO4介质中,甲基橙与NO2-的亚硝化反应产物在银基汞膜电极上于-0.262 V(vs.SCE)处可获得灵敏的吸附波。其二阶导数峰值与亚硝酸根浓度在1.4×10-9~8.6×10-7mol/L范围内成正比,检出限为8.0×10-10mol/L。利用该法测定了水样中的亚硝酸根,结果令人满意。并研究了吸附溶出波行为及反应机理。

关 键 词:银基汞膜微电极  吸附伏安法  亚硝酸根  甲基橙
文章编号:0367-6358(2006)09-521-03
收稿时间:2006-03-17
修稿时间:2006-03-172006-06-30

Determination of Trace Amount of Nitrite Based on Silver Mercury Thin-film Microelectrode
KUANG Yun-fei,ZOU Jian-ling,DENG Pei-hong,FENG Yong-jan.Determination of Trace Amount of Nitrite Based on Silver Mercury Thin-film Microelectrode[J].Chemical World,2006,47(9):521-523.
Authors:KUANG Yun-fei  ZOU Jian-ling  DENG Pei-hong  FENG Yong-jan
Abstract:
Keywords:silver mercury thin-film microelectrode  adsorption voltammeter method  nitrite  methyl orange
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