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In:Fe:Cu:LiNbO_3晶体光损伤阈值和非挥发性全息存储
引用本文:毕建聪,刘波,田海燕,徐玉恒.In:Fe:Cu:LiNbO_3晶体光损伤阈值和非挥发性全息存储[J].硅酸盐学报,2009,37(5).
作者姓名:毕建聪  刘波  田海燕  徐玉恒
作者单位:哈尔滨理工大学化学和环境工程学院,哈尔滨,150040
摘    要:在LiNbO3(LN)中掺入摩尔分数分别为0,0.25%,1.5%,1.75%的In2O3、质量分数为0.1%的Fe2O3和0.05%的CuO,用提拉法生长了系列 In:Fe:Cu:LiNbO3(In:Fe:Cu:LN)晶体.采用Sanarmont补偿法和透射光束图像畸变法,测试In:Fe:Cu:LN晶体的光损伤阈值,基于Scalar表达式,讨论了晶 体光损阈值变化的机理.结果表明:3%In:0.1%Fe:0.05%Cu:LN晶体光损伤阈值比LN晶体高2个数量级,3%In3+达到阈值浓度.采用0.1%Fe:0.05%Cu:LN 晶体和0.5%In:0.1%Fe:0.05%Cu:LN晶体作为存储介质,Fe2+/Fe3+作为浅能级,Cu+/Cu2+作为深能级,以氪离了激光(蓝光)作开关光,氦-氖激光(红光)作为记录光,完成双光子固定非挥发性存储实验.实验表明:0.5%1n:0.1%Fe:0.05%Cu:LN晶体存储记录速度比Mn:Fe:LN晶体提高1个数量级.

关 键 词:铟铁铜共掺铌酸锂晶体  光损伤阈值  非挥发性存储

OPTICAL DAMAGE THRESHOLD AND NON-VOLATILE HOLOGRAPHIC STORAGE OF In:Fe:Cu:LiNbO_3 CRYSTALS
BI Jiancong,LIU Bo,TIAN Haiyan,XU Yuheng.OPTICAL DAMAGE THRESHOLD AND NON-VOLATILE HOLOGRAPHIC STORAGE OF In:Fe:Cu:LiNbO_3 CRYSTALS[J].Journal of The Chinese Ceramic Society,2009,37(5).
Authors:BI Jiancong  LIU Bo  TIAN Haiyan  XU Yuheng
Affiliation:School of Chemistry and Environment Engineering;Harbin University of Science and Technology;Harbin 150040;China
Abstract:
Keywords:indium  iron and copper co-doped lithium niobate crystal  optical damage threshold  nonvolatile storage  
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