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碳化硅陶瓷的铬金属化机理及封接
引用本文:潘裕柏,江东亮.碳化硅陶瓷的铬金属化机理及封接[J].硅酸盐学报,1990,18(5):393-399.
作者姓名:潘裕柏  江东亮
作者单位:中国科学院上海硅酸盐研究所 (潘裕柏,江东亮),中国科学院上海硅酸盐研究所(谭寿洪)
摘    要:研究了碳化硅(SiC)陶瓷表面铬金属化机理及SiC-SiC和SiC-Cu的封接技术。SiC在1000—1250℃真空环境中表面铬金属化,然后利用铜基合金钎焊封接.8iC—SiC封接体的室温四点抗弯强度平均值为103MPa,最大值140MPa。 对接合界面结构的研究发现Cr扩散入SiC基体并在界面处存在着反应层Cr_3C_2,同时si逸失。在SiC与金属Cr之间形成Cr_3C_2,表明SiC的封接是可行的。

关 键 词:碳化硅  陶瓷    金属化  封接

CHROMIUM METALLIZATION MECHANISM AND JOINING OF SILICON CARBIDE CERAMICS
Pan Yubai giang Dongliang Tan Shouhong.CHROMIUM METALLIZATION MECHANISM AND JOINING OF SILICON CARBIDE CERAMICS[J].Journal of The Chinese Ceramic Society,1990,18(5):393-399.
Authors:Pan Yubai giang Dongliang Tan Shouhong
Abstract:
Keywords:silicon carbide (SiC)  metallization  chromium(Cr)  solid reaction  Cr diffusion
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