| 并五苯的溶解及其薄膜性能表征 |
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| 引用本文： | 张旭辉,陶春兰,张福甲,刘一阳,张浩力. 并五苯的溶解及其薄膜性能表征[J]. 半导体学报, 2006, 27(10): 1771-1775 |
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| 作者姓名： | 张旭辉 陶春兰 张福甲 刘一阳 张浩力 |
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| 作者单位： | 兰州大学物理科学与技术学院，兰州 730000;兰州大学物理科学与技术学院，兰州 730000;兰州大学物理科学与技术学院，兰州 730000;兰州大学化学化工学院 功能有机分子化学国家重点实验室，兰州 730000;兰州大学化学化工学院 功能有机分子化学国家重点实验室，兰州 730000 |
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| 摘 要： | 报道了并五苯的邻-1,2-氯苯溶液的制备方法及在Si和SiO2表面形成的固态薄膜的紫外-可见光光谱(UV-Vis)、光学显微镜、扫描电镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)和X射线衍射(XRD)的表征结果.该溶液在100℃左右能形成较大面积、较均匀的多晶并五苯薄膜.
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| 关 键 词： | 并五苯溶液 薄膜 UV-Vis AFM SEM XRD 并五苯 溶解 膜性能表征 Solution Thin Films Characterizing Pentacene 固态薄膜 均匀 大面积 苯溶液 表征结果 射线衍射 光学显微镜 原子力 扫描电镜 可见光光谱 面形 方法 |
| 文章编号： | 0253-4177(2006)10-1771-05 |
| 收稿时间： | 2006-01-10 |
| 修稿时间： | 2006-06-02 |
Dissolving Pentacene and Characterizing Pantecene Thin Films Fabricated from the Solution |
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| Zhang Xuhui,Tao Chunlan,Zhang Fuji,Liu Yiyang and Zhang Haoli. Dissolving Pentacene and Characterizing Pantecene Thin Films Fabricated from the Solution[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2006, 27(10): 1771-1775 |
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| Authors: | Zhang Xuhui Tao Chunlan Zhang Fuji Liu Yiyang Zhang Haoli |
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| Affiliation: | School of Physical Science and Technology,Lanzhou University,Lanzhou 730000,China;School of Physical Science and Technology,Lanzhou University,Lanzhou 730000,China;School of Physical Science and Technology,Lanzhou University,Lanzhou 730000,China;State Key Laboratory of Applied Organic Chemistry,College of Chemistry and Chemical Engineering,Lanzhou University,Lanzhou 730000,China;State Key Laboratory of Applied Organic Chemistry,College of Chemistry and Chemical Engineering,Lanzhou University,Lanzhou 730000,China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | pentacene solution thin films UV-Vis AFM SEM XRD |
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