IDDQ测试技术及其实现方法 |
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引用本文: | 谭超元,钟征宇.IDDQ测试技术及其实现方法[J].电子产品可靠性与环境试验,1999(1):38-42. |
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作者姓名: | 谭超元 钟征宇 |
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作者单位: | 电子部五所 |
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摘 要: | IDDQ测试是近几年来国外比较流行的CMSO集成电路测试技术。IDDQ测试能够2检测出传统的固定值故障电压测试所无法检测的CMOS集成电路内部的缺陷、所以,能够明显提高CMOS集成电路的使用可靠性。本文叙述了IDDQ测试的基本原理和IDDQ测试在集成电路测试系统上的实现方法及测试实例。
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关 键 词: | IDDQ 电流测试 CMOS 可靠性 集成电路 |
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