|
|||||
|
|
| IDDQ测试技术及其实现方法 | |
| 作者姓名： | 谭超元 钟征宇 |
| 作者单位： | 电子部五所 |
| 摘 要： | ＩＤＤＱ测试是近几年来国外比较流行的ＣＭＳＯ集成电路测试技术。ＩＤＤＱ测试能够２检测出传统的固定值故障电压测试所无法检测的ＣＭＯＳ集成电路内部的缺陷、所以，能够明显提高ＣＭＯＳ集成电路的使用可靠性。本文叙述了ＩＤＤＱ测试的基本原理和ＩＤＤＱ测试在集成电路测试系统上的实现方法及测试实例。 |
| 关 键 词： | IDDQ 电流测试 CMOS 可靠性 集成电路 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |