基于图论的最小测试集的寻找 |
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引用本文: | 蒋薇薇,鲁昌华,章其波,刘春. 基于图论的最小测试集的寻找[J]. 仪器仪表学报, 2003, 24(Z2): 295-297 |
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作者姓名: | 蒋薇薇 鲁昌华 章其波 刘春 |
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作者单位: | 合肥工业大学,合肥,230009 |
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基金项目: | 2001年安徽省科研重点项目(No.01041177). |
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摘 要: | 电路的测试与诊断已有了广泛的研究,但被测电路的最小测试集的寻找一直是个难题.本文引用图论中的有关概念,对使用离散事件系统理论进行建模的电路进行最小测试集的查找,能够方便快捷的获得被测电路的最小测试集.最后用实例对该方法进行了验证.
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关 键 词: | 图 论 离散事件系统 可测性 最小测试集 |
Looking for a Minimal Test Set Based on the Graph Theory |
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Abstract: | |
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Keywords: | |
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