| 原子力显微镜原理与应用技术 |
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| 引用本文： | 刘岁林,田云飞,陈红,吉晓江. 原子力显微镜原理与应用技术[J]. 现代仪器, 2006, 12(6): 9-12 |
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| 作者姓名： | 刘岁林 田云飞 陈红 吉晓江 |
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| 作者单位： | 四川大学分析测试中心,成都,610064 |
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| 摘 要： | 本文简述原子力显微镜的工作原理,对比说明敲击模式的优越性,指出针尖-样品卷积效应和假象产生的原因,并例证其应用领域及其测试效果。
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| 关 键 词： | 原子力显微镜 卷积 假象 |
The principle and using technology of atomic force microscopy |
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| Liu Suilin,Tian Yunfei,Chen Hong,Ji Xiaojiang. The principle and using technology of atomic force microscopy[J]. Modern Instruments, 2006, 12(6): 9-12 |
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| Authors: | Liu Suilin Tian Yunfei Chen Hong Ji Xiaojiang |
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| Affiliation: | Analysis and Test Center , Sichuan University , Chengdu Sichuan 610064 , China |
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| Abstract: | This thesis gives a brief introduction to working principle of atomic force microscopy,illuminates the superiority of tapping mode by constrast, points out tip-sample convolution and reasons that cause sham images, illustrates application fields and testing effects. |
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| Keywords: | Atomic force microscopy Convolution Sham image |
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