| WC粉末X射线衍射的粒度效应 |
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| 引用本文： | 陈士仁,吴冲浒,张守全. WC粉末X射线衍射的粒度效应[J]. 中国有色金属学报, 2002, 12(3): 442-447 |
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| 作者姓名： | 陈士仁 吴冲浒 张守全 |
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| 作者单位： | 厦门金鹭特种合金有限公司,技术研究与发展中心,厦门,361006 |
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| 摘 要： | 用X射线衍射研究粒度 10 .86～ 0 .12 4μm系列WC粉末的粒度效应。随粒度变小 ,衍射线线形发生明显变化 ,从敏锐到极其漫散。亚微米级粒度的WC粉末谱线半高宽随粒度变细显著变化 ,半高宽是度量粒度效应的主要指标 ,而对于微米级粒度的粒度效应则可应用谱线背底宽度来衡量。极细和超细粒度WC粉末衍射谱线的2θ位置明显偏离平衡位置 ,这与临近纳米粒度有关。WC粉末衍射强度也随粒度产生明显变化 ,衍射强度随粒度变细的变化规律与半高宽的规律呈反转对应关系。应用WC粉末X射线衍射的粒度效应 ,尤其是谱线宽化的规律作为评定亚微米级WC粉末粒度尤其是极细和超细粒度 ,是有应用前景的。
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| 关 键 词： | WC粉末 粒度 粒度效应 X射线衍射 谱线宽化 |
| 文章编号： | 1004-0609(2002)03-0442-06 |
| 修稿时间： | 2001-07-13 |
XRD effect of WC powder particle size |
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| CHEN Shi-ren,WU Chong-hu,ZHANG Shou-quan. XRD effect of WC powder particle size[J]. The Chinese Journal of Nonferrous Metals, 2002, 12(3): 442-447 |
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| Authors: | CHEN Shi-ren WU Chong-hu ZHANG Shou-quan |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | WC powder particle size effect of particle size X-ray diffraction line broadening |
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