首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

电化学扫描探针显微镜在表面微/纳米加工的应用
引用本文:汤儆,毛秉伟,田中群.电化学扫描探针显微镜在表面微/纳米加工的应用[J].微纳电子技术,2003(Z1).
作者姓名:汤儆  毛秉伟  田中群
作者单位:固体表面物理化学重点实验室,固体表面物理化学重点实验室,固体表面物理化学重点实验室 化学系,福建厦门361005,化学系,福建厦门361005,化学系,福建厦门361005
摘    要:概述了在固 /液界面微 /纳米加工中经常采用的三种电化学扫描探针显微镜 (EC SPM )技术 ,分别讨论了电化学扫描隧道显微镜 (EC STM )、电化学原子力显微镜 (EC AFM )和扫描电化学显微镜 (SECM )在应用于微 /纳米加工时的基本原理和各种方法 ,并综合比较和分析了这三种技术的优缺点

关 键 词:扫描隧道显微镜  原子力显微镜  扫描电化学显微镜  微/纳米加工  电化学

Micro-and nano-fabrication by EC-SPM
TANG Jing,MAO Bing wei,TIAN Zhong qun.Micro-and nano-fabrication by EC-SPM[J].Micronanoelectronic Technology,2003(Z1).
Authors:TANG Jing  MAO Bing wei  TIAN Zhong qun
Abstract:Three main electrochemical scanning probe microscopy(EC SPM) techniques for micro and nano fabrication are reviewed. The mechanism and different approaches of micro/nanofabrication about scanning tunneling microscope (STM), atomic force microscope (AFM) and scanning electrochemical microscope (SECM) are discussed in detail. The advantage and disadvantage of each technique are compared and analyzed.
Keywords:STM  AFM  SEM  micro/nanofabrication  electrochemistry
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号