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a-Si∶H/Al/a-Si∶H三层复合膜的低温晶化研究
引用本文:王瑞春,杜丕一,沈鸽,翁文剑,韩高荣,赵高凌,张溪文. a-Si∶H/Al/a-Si∶H三层复合膜的低温晶化研究[J]. 真空科学与技术学报, 2002, 22(3): 234-238
作者姓名:王瑞春  杜丕一  沈鸽  翁文剑  韩高荣  赵高凌  张溪文
作者单位:浙江大学材料系,硅材料国家重点实验室,杭州,310027
基金项目:国家自然科学基金 (697760 0 4,69890 2 3 0 ),教育部重点基础研究基金资助项目
摘    要:采用真空热蒸发与PECVD方法 ,在特殊设计的“单反应室双沉积法”薄膜沉积设备中沉积a Si∶H/Al/a Si∶H三层复合薄膜 ,并利用XRD ,XPS及SEM等方法对薄膜在不同温度退火后的晶化行为进行了研究。结果表明 ,随着热处理过程的进行 ,金属Al逐步向表面扩散 ,在金属Al锈导下a Si∶H层出现晶化的温度不高于 2 5 0℃。在Al层厚度低于 2 2nm时 ,a Si∶H向晶态硅转变的量随着Al层厚度的增加而增加 ,而当Al层厚度大于 2 2nm后 ,a Si∶H向晶态硅转变的量与Al层厚度无关

关 键 词:复合薄膜  Al诱导  a-Si∶H  低温晶化
文章编号:0253-9748(2002)03-0234-05
修稿时间:2001-10-29

Study of Crystallization of a-Si∶H/Al/a-Si∶H Sandwich Films at Low Annealing Temperature
Wang Ruichun,Du Piyi,Shen Ge,Weng Wenjian,Han Gaorong,Zhao Gaoling,Zhang Xiwen. Study of Crystallization of a-Si∶H/Al/a-Si∶H Sandwich Films at Low Annealing Temperature[J]. JOurnal of Vacuum Science and Technology, 2002, 22(3): 234-238
Authors:Wang Ruichun  Du Piyi  Shen Ge  Weng Wenjian  Han Gaorong  Zhao Gaoling  Zhang Xiwen
Abstract:
Keywords:
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