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| 低丰度同位素质谱测量影响因素研究 | |
| 引用本文： | 魏兴俭,张海路. 低丰度同位素质谱测量影响因素研究[J]. 质谱学报, 2004, 25(Z1): 177-178 |
| 作者姓名： | 魏兴俭 张海路 |
| 作者单位： | 中国工程物理研究院,四川,绵阳,621900 |
| 摘 要： | 在铀同位素的热表面电离质谱测量中,对于234U、236U这些低丰度同位素的测量结果总是比较差的.这是因为这些低丰度同位素的信号幅度小,信噪比较低,易受本底的影响.因此,减小本底影响是改善低丰度同位素测量结果的关键[1～3]. |
| 文章编号： | 1004-2997(2004)增刊-177-02 |
| 修稿时间： | 2004-07-15 |
Effect Factors of Measurement of Low Abundance Isotope by Mass Spectrometry |
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