| 有源矩阵液晶显示器的缺陷检测 |
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| 引用本文： | 葛长军,成建波,杨开愚. 有源矩阵液晶显示器的缺陷检测[J]. 半导体技术, 1999, 24(2): 36-39,43 |
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| 作者姓名： | 葛长军 成建波 杨开愚 |
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| 作者单位： | 电子科技大学光电子技术系,成都,610054 |
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| 摘 要： | 分析了ＶＧＡ有源矩阵液晶显示器的缺陷分类、生产原因。研制出了有源矩阵液晶显示器的断路测试板、短路测试板以及全板显示则试板。
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| 关 键 词： | 有源矩阵液晶显示 缺陷 测试板 |
Study on Defect Test of Active Matrix Liquid Crystal Display |
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| Ge Changjun,Cheng Jianbo,Yang Kaiyu. Study on Defect Test of Active Matrix Liquid Crystal Display[J]. Semiconductor Technology, 1999, 24(2): 36-39,43 |
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| Authors: | Ge Changjun Cheng Jianbo Yang Kaiyu |
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| Affiliation: | Ge Changjun,Cheng Jianbo,YangKaiyu;( |
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| Abstract: | The defect classification and the reason forming defect of VGA thin film transistor active matrix liquid crystal displays are analysed.Open tester,short tester and display tester are developed. |
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| Keywords: | Active matrix liquid crystal display Defect Tester |
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