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GaAs中子嬗变掺杂的初步研究
引用本文:徐稼迟,张德宏,徐小琳,王家英,孟祥提.GaAs中子嬗变掺杂的初步研究[J].核技术,1986(3).
作者姓名:徐稼迟  张德宏  徐小琳  王家英  孟祥提
作者单位:南京固体器件研究所 (徐稼迟,张德宏),清华大学核能技术研究所 (徐小琳,王家英),清华大学核能技术研究所(孟祥提)
摘    要:硅的中子嬗变掺杂(简称NTD)法已经得到了广泛应用,在制备大功率整流器、可控硅、硅靶摄像管、核探测器和集成电路等方面被公认是一种好方法。中子辐照硅的优点是掺杂十分均匀,浓度偏差可在±5%之内;掺杂精度高,能够准确地达到所要求的浓度。近年来,Ⅲ-V族化合物半导体的中子嬗变掺杂亦有报道。1971年Miriashvili等人首先报道了GaAs的中子嬗变掺杂。在这之后,一些作者进一步研究了热中子辐照GaAs的原理、特点和它的应用。1982年在美国马里兰举行的第四届国际NTD会议上也报道了这方面的内容。

关 键 词:GaAs  嬗变  掺杂  迁移率  补偿比

Preliminary research on doping of GaAs by neutron transmutation
Xu Jiachi Zhang Dehong.Preliminary research on doping of GaAs by neutron transmutation[J].Nuclear Techniques,1986(3).
Authors:Xu Jiachi Zhang Dehong
Affiliation:Xu Jiachi Zhang Dehong(Nanjing Institute of Solid State Devices Research)Xu Xiaolin Wang Jiaying Meng Xiangti(INFT of Qinghua University)
Abstract:The principle, technology and characteristic of the neutron transmutation doping of GaAs are presented in this paper. The preliminary experimental result is given.
Keywords:gallium arsenide transmutation doping mobility compensation ratio
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