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光学面形检测仪
引用本文:苗静.光学面形检测仪[J].西安工业大学学报,2012(11):873-873.
作者姓名:苗静
摘    要:该仪器采用相移式横向剪切干涉技术,是一种数字波面测试技术.其原理是将相干两个剪切波面中的一个波面作阶梯式或连续变化,从而使干涉场中的干涉条纹作阶梯式或连续式扫描,用CCD相机获取干涉场中各点的光强,利用图像中各点光强的变化关系,求出被测波面的位相信息或波面面形.由于横向剪切干涉技术是利用被测波面自身实现干涉的,不需要标准的参考面,测试装置简单、测量速度快、测量精度高,且可以实时对剪切干涉图进行采集与处理,得到被测原始波面的信息.

关 键 词:面形  检测仪  剪切波面  光学  干涉技术  横向剪切  CCD相机  连续变化
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