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逻辑电路冒险现象及其逻辑代数判断法
引用本文:宋婀娜,张海宁.逻辑电路冒险现象及其逻辑代数判断法[J].黑龙江矿业学院学报,1999,9(3):31-34.
作者姓名:宋婀娜  张海宁
作者单位:[1]黑龙江矿业学院自动化工程系 [2]计算中心
摘    要:针对逻辑电路中的冒险现象及其对电路的不良影响,利用波形图,分析并证明了判断逻辑电路冒险现象的逻辑代数法,从而降低了其问题的难度,使之更容易被理解与掌握。

关 键 词:电路  过渡过程  冒险现象  逻辑电路  逻辑代数判断
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