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杂志ISSN号
IEC 61967系列-集成电路辐射发射测试方法分析
作者姓名:
王文杰
白云
彭俊
贾云霞
李腾飞
摘 要:
本文介绍了国际标准IEC 61967系列标准中关于集成电路辐射发射测量方法.同时,对标准给出的TEM小室和GTEM小室法、表面扫描法、IC带状线法的测试原理,试验布置及测试方法的特点进行了说明,以帮助测试人员根据不同种类的IC进行选择相应的试验方法.
关 键 词:
集成电路
TEM小室
GTEM小室
表面扫描法
IC带状线法
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