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| IEC 61967系列-集成电路辐射发射测试方法分析 | |
| 作者姓名： | 王文杰 白云 彭俊 贾云霞 李腾飞 |
| 摘 要： | 本文介绍了国际标准IEC 61967系列标准中关于集成电路辐射发射测量方法.同时,对标准给出的TEM小室和GTEM小室法、表面扫描法、IC带状线法的测试原理,试验布置及测试方法的特点进行了说明,以帮助测试人员根据不同种类的IC进行选择相应的试验方法. |
| 关 键 词： | 集成电路 TEM小室 GTEM小室 表面扫描法 IC带状线法 |
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