应用于Virtex系列FPGA的IR-CLB资源的联合测试和诊断 |
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引用本文: | 李文昌,万理,阮爱武,于敦山.应用于Virtex系列FPGA的IR-CLB资源的联合测试和诊断[J].微电子学与计算机,2014(1). |
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作者姓名: | 李文昌 万理 阮爱武 于敦山 |
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作者单位: | 北京大学信息科学技术学院;电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室; |
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摘 要: | FPGA(Field Programmable Gate Arrays)作为现场可编程门阵列,其丰富的内部资源和强大的功能越来越受到应用者的青睐.随着FPGA规模的增大,其可靠性问题日益受到重视.因此,如何保证FPGA可靠性成为了FPGA生产厂商和应用人员需要共同面对的问题.从FPGA的可靠性这一重要性出发,针对Virtex系列XCV300芯片的故障测试,根据互联资源的特点,创新性地提出了针对IR和CLB资源的IR-CLB资源联合测试方法.实现了IR和CLB资源的同时测试,并且利用FPGA底层布线工具得到了实际测试配置图形.
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关 键 词: | 现场可编程门阵列 互联资源 可编程逻辑模块 联合测试 |
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