首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

应用于Virtex系列FPGA的IR-CLB资源的联合测试和诊断
引用本文:李文昌,万理,阮爱武,于敦山.应用于Virtex系列FPGA的IR-CLB资源的联合测试和诊断[J].微电子学与计算机,2014(1).
作者姓名:李文昌  万理  阮爱武  于敦山
作者单位:北京大学信息科学技术学院;电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室;
摘    要:FPGA(Field Programmable Gate Arrays)作为现场可编程门阵列,其丰富的内部资源和强大的功能越来越受到应用者的青睐.随着FPGA规模的增大,其可靠性问题日益受到重视.因此,如何保证FPGA可靠性成为了FPGA生产厂商和应用人员需要共同面对的问题.从FPGA的可靠性这一重要性出发,针对Virtex系列XCV300芯片的故障测试,根据互联资源的特点,创新性地提出了针对IR和CLB资源的IR-CLB资源联合测试方法.实现了IR和CLB资源的同时测试,并且利用FPGA底层布线工具得到了实际测试配置图形.

关 键 词:现场可编程门阵列  互联资源  可编程逻辑模块  联合测试
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号