| 考虑晶界效应的纳米压痕多尺度模拟 |
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| 引用本文： | 王华滔,倪玉山,黎军顽,张文. 考虑晶界效应的纳米压痕多尺度模拟[J]. 机械强度, 2010, 32(3) |
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| 作者姓名： | 王华滔 倪玉山 黎军顽 张文 |
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| 作者单位： | 复旦大学,力学与工程科学系,上海,200433 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 |
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| 摘 要： | 采用准连续介质多尺度方法,模拟铜薄膜的纳米压痕变形过程,为了研究晶界在纳米压痕中的效应,分别计算单层和双层薄膜两种情况,得到载荷—位移响应曲线。加载过程中,对薄膜内部变形比较剧烈的部分画出原子图,从微观角度分析产生剧烈变形的原因,对比两种情况下微观机理的不同。结果表明,在单层薄膜的压痕中,位错在压头左右两边的正下方-45°A处分别成核,随着加载的进行,在薄膜内部-130°A处第二次成核;在双层薄膜压痕中,位错同样在-45°A处成核,随着加载的进行向下移动,终止在晶界处,没有出现第二次成核;对比两种情况发现,晶界对薄膜的硬度影响不是很大,而对薄膜的应变能变化影响显著。
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| 关 键 词： | 纳米压痕 准连续介质方法 晶界 位错成核 |
MULTI-SCALE SIMULATION OF THE NANO-INDENTATION UNDER THE INFLUENCE OF THE GRAIN BOUNDARY |
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