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HgCdTe环孔p-n结光伏探测器暗电流机制
引用本文:李欣,王淑芬,毛京湘,赵晋云. HgCdTe环孔p-n结光伏探测器暗电流机制[J]. 红外与激光工程, 2007, 36(Z1)
作者姓名:李欣  王淑芬  毛京湘  赵晋云
摘    要:P-n结I-V特性是红外光伏探测器的一个重要指标,它直接决定了探测器的动态电阻和热噪声,决定了探测器的性能.实验主要对离子刻蚀环孔P-n结HgCdTe长波光伏探测器进行变温,I-V特性测试分析.通过对测试实验数据拟合,从理论上计算了探测器在不同温度及不同偏压下的暗电流,得到一些相关的材料和器件性能参数.希望利用分析计算结果了解工艺中存在的问题,对改进工艺及提高器件性能提供理论依据.

关 键 词:暗电流  碲镉汞  光伏探测器  实验分析  模拟计算

Dark current characteristics of HgCdTe photovoltaic detectors with annular aperture P-n junction
LI Xin,WANG Shu-fen,MAO Jing-xiang,ZHAO Jin-yun. Dark current characteristics of HgCdTe photovoltaic detectors with annular aperture P-n junction[J]. Infrared and Laser Engineering, 2007, 36(Z1)
Authors:LI Xin  WANG Shu-fen  MAO Jing-xiang  ZHAO Jin-yun
Abstract:
Keywords:
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