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| 纳米硅粉颗粒粒径的测试方法研究 | |
| 引用本文： | 秦海青,雷晓旭,刘文平,林峰,张振军,张健伟.纳米硅粉颗粒粒径的测试方法研究[J].超硬材料工程,2017(1):23-26. |
| 作者姓名： | 秦海青 雷晓旭 刘文平 林峰 张振军 张健伟 |
| 作者单位： | 1.中国有色桂林矿产地质研究院有限公司541004;2.国家特种矿物材料工程技术研究中心541004;3.广西超硬材料重点实验室541004; |
| 基金项目： | 桂林科技开发(科技攻关)项目(合同编号:2016010706)；桂林科技开发(科技攻关)项目(合同编号:2016010704) |
| 摘 要： | 文章以高纯度纳米硅粉为研究对象,研究了三种常用纳米颗粒粒径检测方法(激光粒度仪法、比表面积法、X射线衍射法)的检测结果。实验结果表明:与激光粒度仪法相比,BET法与X射线衍射法的测量结果都偏小。 |
| 关 键 词： | 纳米硅粉 粒径 测试方法 |
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