半导体激光器微腔光场模式特征分析

因微盘的回音壁模式是二重简并的,如果微盘侧边刻蚀得比较粗糙或者微盘形状有些改变,原来简并的模式就会发生分裂并产生具有相近品质因子和模场分布的两个模式,这样微盘激光器就很难实现单模工作。利用FullWAVE 6.0软件,模拟分析了边长为3m的等边三角形微腔的模式特性,并计算出了模式品质因子Q值。