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烧结碳化硅粉的化学分析
作者姓名:
VanD.
JK 梁树林
摘 要:
论述了烧结SiC粉的化学分析,其杂质是来自使用的原料,加工工序和加工设备的腐蚀笥磨损。其主要的杂质有游离C,游离Si,O,N,S,Cl,F,Na,K,Ca,Mg,V,Fe,Ti,Al,Cr和Ni等,并讨论了试样制备和分析方法。有关杂质的作用的重要性,化学分析与质量控制,环境监测,烧结过程和烧结材料的性质等均已阐明。
关 键 词:
烧结 杂质 化学分析 碳化硅陶瓷
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