| FPGA测试研究 |
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| 引用本文： | 孙国强,曲芳,王剑. FPGA测试研究[J]. 计算机与数字工程, 2010, 38(9): 120-122 |
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| 作者姓名： | 孙国强 曲芳 王剑 |
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| 作者单位： | 江南计算技术研究所,无锡,214083 |
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| 摘 要： | 文章针对FPGA的用户级ATE测试进行简要分析,对实现过程的部分关键之处提出自己的见解。从可实现性和资源测试覆盖率两方面着手,对FPGA内部部分资源的测试方法进行简要介绍,其测试的主要目的是使得FPGA芯片在用户采购后得到适当的检验和测试。
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| 关 键 词： | FPGA 内部资源 ATE测试平台 |
Research on the FPGA Testing |
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| Sun Guoqiang,Qu Fang,Wang Jian. Research on the FPGA Testing[J]. Computer and Digital Engineering, 2010, 38(9): 120-122 |
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| Authors: | Sun Guoqiang Qu Fang Wang Jian |
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| Affiliation: | Sun Guoqiang Qu Fang Wang Jian (Jiangnan Institute of Computing Technology, Wuxi 214083) |
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| Abstract: | This paper analyzes the FPGA testing based on user-level ATE in brief and brings up our own views on carrying out some critical testing procedures. Considering the realization and resources testing coverage, it presents the methods of testing resources inside FPGA so that FPGA chips can be checked and tested properly after users buy them. |
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| Keywords: | FPGA |
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