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一种低相位噪声2N分频器的设计
引用本文:徐佳丽,何峥嵘.一种低相位噪声2N分频器的设计[J].微电子学,2006,36(3):370-372,376.
作者姓名:徐佳丽  何峥嵘
作者单位:中国电子科技集团公司,第二十四研究所,重庆,400060
摘    要:介绍了一种低相位噪声2N分频器的设计。该电路采用0.35μm BiCMOS SiGe工艺制作。1 kHz频偏下的相位噪声为-150 dBc/Hz,大大低于传统的分频器;在-55~125℃温度范围内,电路的工作频带为20 MHz~2.4 GHz,功耗电流约40 mA。数据输入端S0、S1、S2控制电路的分频比在21~28间变化,数据输入端与TTL/CMOS电平兼容。

关 键 词:低相位噪声  分频器  BiCMOS  SiGe
文章编号:1004-3365(2006)03-0370-03
收稿时间:2005-12-08
修稿时间:2005-12-082006-03-31

Design of a Very Low Phase Noise 2N Frequency Divider
XU Jia-li,HE Zheng-rong.Design of a Very Low Phase Noise 2N Frequency Divider[J].Microelectronics,2006,36(3):370-372,376.
Authors:XU Jia-li  HE Zheng-rong
Affiliation:Sichuan Institute of Solid-State Circuits, China Electronics Technology Group Corp. , Chongqing 400060, P. R. China
Abstract:
Keywords:Low phase noise  Frequency divider  BiCMOS  SiGe  
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