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应用于14bit SAR ADC的高精度比较器的设计
引用本文:陈幼青,何明华. 应用于14bit SAR ADC的高精度比较器的设计[J]. 微电子学与计算机, 2011, 28(6): 109-112
作者姓名:陈幼青  何明华
作者单位:福州大学,物理与信息工程学院,福建,福州,350000
基金项目:福建省自然科学基金重点项目,福建省自然科学基金,福建省新世纪优秀人才支持计划项目
摘    要:基于预防大锁存理论,设计了一款带有三级前置运算放大器和latch再生电路的高精度比较器.为了实现高精度,采用了输入失调储存(IOS)和输出失调储存(OOS)级联的消失调方法,有效降低了比较器的输入失调电压.传统的比较器动态失调测试方法非常耗时,为此采用新的带负反馈网络的动态失调测试电路,从而大大提高了比较器的设计和仿真效率.Hhnec CZ6H(0.35μm)工艺下,仿真表明,比较器能够分辨的最小信号为33.2μV,满足14 bit SAR ADC对比较器的性能要求.

关 键 词:SAR  比较器  动态失调测试电路

Design of High-esolution Comparator Applied in 14 bit SAR ADC
CHEN You-qing,HE Ming-hua. Design of High-esolution Comparator Applied in 14 bit SAR ADC[J]. Microelectronics & Computer, 2011, 28(6): 109-112
Authors:CHEN You-qing  HE Ming-hua
Affiliation:CHEN You-qing,HE Ming-hua(College of Physics and Information Engineering,Fuzhou University,Fuzhou 350000,China)
Abstract:Based on preamplifier-latch theory,a high-resolution comparator with three pre-amplifiers and a latch is presented.In order to achieve high-resolution,both IOS and OOS offset cancellation technique is used,which successfully decreases the input offset voltage.The traditional dynamic offset test method is time consuming,so a new dynamic offset test bench containing a negative feedback loop is adopted,which efficiently speeds up the design and simulation.The simulation results show that comparator can disting...
Keywords:SAR
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